膜厚儀標準片的技術參數：
●膜厚儀標準片測量方法：磁感應或渦流式
●測量精度：1%±0.1μm依照參考標準片
●膜厚儀標準片測量范圍：磁感應0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm)
●分辨率：0.1μm
●zui小曲率半徑 5mm(凸)；25mm(凹)
●zui小測量面積 φ20mm
●zui小基體厚度 0.35mm
●膜厚儀標準片適用標準：磁感應遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有關規定。渦流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有關規定
●存儲量：12，400條讀數
●低鐵和無鐵層厚度：12 mils(305μm)
●膜厚儀標準片尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含電池）
●單位：英制和公制，可轉換
●電池：9伏干電池或充電電池
●統計數據顯示：讀取次數，平均值，標準差，zui高值，zui低值，由打印機或連續輸出支持的直方圖和CPK圖
●接口：RS-232串行輸出端口
●顯示：1/2英寸背光液晶顯示屏
●鍵區：密封膜?；?9鍵；增強-16鍵
●膜厚儀標準片掃描特征：在掃描時間內自動平均讀數（或可提供實際高低值）
●膜厚儀標準片品牌及產地：英國牛津儀器；產地：美國